X-Işını Kırınımı · XRD Analiz Yöntemi

Kristal Yapı Analiz Teknolojisi

X-Işını
Difraktometresi

Faz Tanımlama Rietveld Analizi Kalıntı Gerilim Kalan Östenit Tahribatsız

X-Işını Kırınımı (XRD), malzemelerin kristal yapısını, kimyasal bileşimini ve fiziksel özelliklerini tahribatsız olarak inceleyen en güçlü analitik yöntemlerden biridir. Kalite kontrol süreçlerinden ileri düzey Ar-Ge çalışmalarına kadar geniş bir yelpazede hizmet verir.

6
Ana aplikasyon alanı
4
Uzman XRD sistemi
%0
Numune tahribatı
XRD_GNR_Goniomter
🔬
Faz Tanımlama
Kalitatif ve kantitatif kristal faz analizi, Rietveld yöntemi
⚙️
Kalıntı Gerilim
Bragg açısı kayması ile çekme/basma gerilim haritalaması
🏭
Kalan Östenit
Çelik ısıl işlem kalite kontrolü, ASTM E975-03 uyumlu
Tahribatsız
Numune bütünlüğü korunur; endüstriyel parçalarda yerinde ölçüm
Bragg Yasası
nλ = 2d·sin θ
X-ışınları kristal düzlemlerinden yansıdığında, yapıcı girişim yalnızca belirli açılarda gerçekleşir. Bu açılar, malzemenin "parmak izi" olan kırınım deseni oluşturur.
nDifraksiyon mertebesi (pozitif tam sayı)
λX-ışını dalgaboyu (genellikle Cu Kα, 1,5406 Å)
dKristal düzlemler arası mesafe (d-aralığı)
θBragg açısı — X-ışını ile düzlem arasındaki açı

Kristal Yapının
Parmak İzi Analizi

X-ışınları malzeme içindeki atomik düzlemlerden kırınım yapar. Her kristal faz, kendine özgü Bragg açılarında pik üretir. Bu desenler referans veritabanlarıyla eşleştirilerek malzemenin içeriği ve yapısı tanımlanır.

📡
X-Işını Üretimi ve Odaklama
X-ışını tüpü (genellikle Cu, Mo veya Co anotlu) monokromatik radyasyon üretir. Optik sistem ışını numune üzerine odaklar.
🔄
Theta/Theta Geometrisi
Tüp ve dedektör eş zamanlı hareket ederken numune sabit kalır. Bu, toz ve parça numuneler için ideal koşul sağlar ve geniş 2θ aralığı taranır.
📊
Veritabanı Eşleştirme ve Rietveld
Yazılım, elde edilen kırınım desenini ICDD PDF veritabanındaki milyonlarca standartla karşılaştırır. Rietveld analizi ile her fazın kütlece yüzdesi hesaplanır.

XRD Analiz
Uygulama Alanları

Gelişmiş dedektör teknolojileri ve güçlü yazılım altyapıları sayesinde XRD sistemleri, endüstriyel kalite kontrol ile ileri Ar-Ge ihtiyaçlarını tek platformda karşılar.

🔍
Faz Tanımlama
Bilinmeyen numunenin içindeki kristalin fazların (mineraller, bileşikler, intermetalikler) kalitatif tespiti. Kırınım deseni ICDD veritabanıyla karşılaştırılarak "parmak izi" eşleştirmesi yapılır.
Kalitatif Analiz
⚖️
Rietveld Analizi
Karışımlardaki fazların kütlece yüzde miktarlarını yüksek hassasiyetle hesaplar. Tüm kırınım profilinin matematiksel modellemesine dayalı kantitatif faz analizi yöntemi.
Kantitatif Analiz
📏
İnce Film Analizi
GIXRD ile yalnızca yüzey tabakasının yapısal analizi; XRR ile nm seviyesinde katman kalınlığı, yoğunluğu ve yüzey pürüzlülüğü ölçümü. Kaplama ve yarı-iletken uygulamaları için kritik.
GIXRD / XRR
⚛️
Nano Partikül Analizi
Pik genişlemesi incelenerek Scherrer denklemiyle kristalit boyutu ve mikro-gerinimler hesaplanır. Nanomalzemelerin ortalama tane boyutunu tahribatsız olarak tayin eder.
Scherrer Denklemi
⚙️
Kalıntı Gerilim Analizi
Döküm, kaynak, işleme ve ısıl işlem sonrası malzemelerde biriken çekme veya basma gerilimlerinin tahribatsız tespiti. Kristal kafesindeki Bragg açısı kaymasından gerilim hesaplanır.
sin²ψ Yöntemi
🔩
Kalan Östenit Tayini
Su verme işleminde martensite dönüşemeyen östenit fazının miktarının endüstriyel standartlara uygun tespiti. Çelik parçaların sertlik, boyutsal kararlılık ve aşınma direncini doğrudan etkiler.
ASTM E975 / SAE SP-453

GNR Serisi ile
XRD Analiz Sistemleri

İtalyan GNR Analytical Instruments marka XRD sistemleri; toz difraktometresinden dedike kalıntı gerilim ve kalan östenit cihazlarına kadar her ihtiyaç için özelleştirilmiş çözümler sunar.

Toz XRD · Nitel ve Nicel
GNR APD 2000 PRO
Theta/Theta Toz XRD Difraktometresi
Polikristalin malzemelerin kalitatif ve kantitatif XRD analizi için yüksek performanslı Theta/Theta sistemi. Faz tanımlama, Rietveld analizi, ince film (GIXRD/XRR), nano partikül kristalit boyutu ve kalıntı gerilim ölçümü tek platformda.
Theta/Theta Geometri GIXRD / XRR Rietveld Scintillation + PSD
Ürün Detayı →
Modüler · Araştırma · Çok Amaçlı
GNR Explorer
Çok Amaçlı XRD Difraktometre
Theta/Theta geometrili, tak-kullan modüler optik mimarisi. Toz difraksiyonu, ince film analizi, rezidüel stres ve Rietveld için yüksek çözünürlüklü sistem. Farklı dedektör ve optik kombinasyonlarıyla genişletilebilir.
Modüler Optik Yüksek Çözünürlük İnce Film Rezidüel Stres
Ürün Detayı →
Endüstriyel · Saha
GNR Residüel Stres Analiz Cihazları
StressX & SpiderX Edge
Kaynak, döküm, işleme ve ısıl işlem sonrası malzemelerdeki kalıntı gerilimin tahribatsız ölçümü için dedike endüstriyel XRD sistemleri. sin²ψ yöntemi, UNI EN 15305 ve ASTM E915 standartları desteklenir.
sin²ψ Yöntemi ASTM E915 UNI EN 15305 Saha Uyumlu
Ürün Detayı →
Uzman · Kalıntı Östenit
GNR AreX / AreX D
Kalan Östenit Analiz Cihazı
Su verme ve temperle işlemi görmüş çelik parçalarda kalan östenit miktarının ASTM E 975-03 uyumlu hızlı tayini. 3 dakika ölçüm süresi, %1 hassasiyet, otomatik analiz yazılımı. Otomotiv ve çelik endüstrisi için kritik kalite kontrolü.
ASTM E975-03 3 Dakika Ölçüm %1 Hassasiyet Otomatik Yazılım
Ürün Detayı →

XRD Analizi Hakkında

XRD; faz tanımlama (hangi kristal fazlar var?), kantitatif faz analizi (ne kadar?), kristal kafes parametreleri, kristalit boyutu, mikro-gerinimler, kalıntı gerilim, kalan östenit miktarı ve ince film özellikleri hakkında bilgi verir. Tüm bu analizler aynı numune üzerinde tahribatsız olarak gerçekleştirilebilir.

XRF (X-Işını Floresansı) elemental bileşimi belirler — "hangi elementler ve ne kadar var?" sorusunu yanıtlar. XRD ise kristal yapıyı analiz eder — "bu elementler hangi kristal fazlar halinde bulunuyor?" sorusunu yanıtlar. Örneğin, demir içeren bir numunede XRF demir miktarını verirken, XRD demirin ferrit, östenit veya sementit olarak hangi fazda bulunduğunu gösterir.

XRD; çelik ve metalurji (kalıntı gerilim, kalan östenit), madencilik ve seramik (mineral faz analizi), ilaç (polimorf analizi), çimento ve inşaat malzemeleri (klinker faz oranları), yarı iletken ve elektronik (ince film analizi), otomotiv (parça kalite kontrolü) ve akademik araştırma (malzeme geliştirme) sektörlerinde yaygın olarak kullanılmaktadır.

Üretim süreçleri (kaynak, taşlama, döküm, ısıl işlem) malzeme içinde kalıcı iç gerilimler oluşturur. Çekme gerilimler yorulma çatlaklarını hızlandırır ve servis ömrünü kısaltır; basma gerilimler ise dayanımı artırır. XRD ile Bragg açısı kayması ölçülerek bu gerilimler tahribatsız biçimde haritalandırılır ve üretim parametreleri optimize edilebilir.

Su verme işleminden sonra çelikte martensite dönüşemeyen östenit fazı "kalan östenit" olarak kalır. Bu faz; parçanın sertliğini düşürür, boyutsal kararlılığını bozar ve aşınma direncini azaltır. Otomotiv dişli sistemleri ve yataklar gibi yüksek performanslı uygulamalarda ASTM E975-03 standardına göre kalan östenitin %1 hassasiyetle ölçülmesi zorunludur.

Karar noktaları: Yalnızca kalan östenit tayini için AreX / AreX D yeterlidir; hız ve operatör kolaylığı önceliklidir. Kalıntı gerilim ve saha ölçümü için StressX veya SpiderX Edge tercih edilir. Çok amaçlı Ar-Ge laboratuvarı için Explorer modüler yapısıyla idealdir. Rutin faz analizi ve ince film dahil kapsamlı toz XRD için APD 2000 PRO seçilir. Demo ve teknik danışmanlık için bizimle iletişime geçin.

Numunenizle
Demo Talep Edin

XRD analiz cihazları, aplikasyon desteği veya numune ölçümü için uzman ekibimizle iletişime geçin. 25 yılı aşkın deneyimle yanınızdayız.

📞
+90 (216) 577 52 96Telefon ile ulaşın
info@ankaanalitik.com.trE-posta ile ulaşın
💬
WhatsApp Hattı+90 549 252 76 46
📍
Kadıköy, İstanbul19 Mayıs Mah. Sumer Sok. Sumko Sitesi A7 Blok No:3CL
Demo / Bilgi Formu