El Tipi pXRF — Maden & Mineral Analizi
Maden arama, jeolojik keşif ve cevher kalite kontrolünde laboratuvar kalitesindeki elementel analizi doğrudan sahaya taşıyan Grafen Pencereli FAST SDD dedektörlü pXRF analizörü.
Çekirdek Teknoloji
Geleneksel Si-PIN sınırlarını aşan FAST SDD dedektör; hafif elementlerde ve nadir toprak elementlerinde sahada gerçek laboratuvar kalitesi sunar.
Uygulama Alanları
Desteklenen Numune Tipleri
Teknik Veriler
| Parametre | Değer |
|---|---|
| Uyarım Kaynağı | Seramik paketli mikro odaklı X-ışını tüpü, Ag hedef, maks. 50 kV |
| Dedektör | Grafen Pencereli Optimize FAST SDD (veya Si-PIN seçeneği) |
| Element Aralığı | Mg (Z=12) → U (Z=92) — 25+ element |
| Analiz Yöntemi | Temel Parametreler (FP) + Ampirik kalibrasyon |
| Ölçüm Süresi | 1–60 saniye (matrise bağlı) |
| Batarya | 7.2V Li-ion, 6800 mAh — tam gün saha kullanımı |
| Ekran | Kapasitif dokunmatik renkli, gün ışığında okunabilir |
| Koruma | Anti-delinme pencere, IP54 |
| Sertifikalar | CE, RoHS |
Sık Sorulan Sorular
FAST SDD, Si-PIN'e kıyasla çok daha düşük dedeksiyon limitleri, yüksek sayım oranı ve gelişmiş pik çözünürlüğü sunar. Özellikle hafif elementlerde (Mg, Al, Si) ve nadir toprak elementlerinde (REE) büyük fark yaratır.
Fundamental Parameters (Temel Parametreler) yöntemi, fiziksel referans standartlarına ihtiyaç duymadan fizik prensiplerinden yola çıkarak elementel konsantrasyonları hesaplayan bir kalibrasyon yaklaşımıdır.
Mg (Z=12) ile U (Z=92) arasında 25'ten fazla element. Nadir toprak elementleri (La, Ce, Pr) ve kritik oksitler (TiO2, Fe2O3, Al2O3) dahildir.
6800 mAh kapasiteli Li-ion batarya ile tam gün saha kullanımı. Priz erişimi olmayan uzak maden sahalarında bile kesintisiz çalışma sağlar.
Teklif ve Bilgi
Satış öncesi teknik danışmanlık, demo talebi veya fiyat bilgisi için uzman ekibimizle iletişime geçin. 25 yılı aşkın tecrübemizle yanınızdayız.
